ISSN 0236-3933. Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. «Приборостроение». 2012
322
Рис. 4. Диаграммы удель-
ной ЭПР темно-зеленой
эмали на разных длинах
волн:
1
— 1064
нм;
2
— 532
нм;
3
— 355
нм
Таким образом, в настоящей работе:
даны основы экспериментально-расчетного метода определения
отражательных характеристик объектов в лазерной локации, базиру-
ющегося на фацетной модели представления их поверхности и полу-
ченных экспериментально характеристик отражения внешних покры-
тий;
описан разработанный уникальный многоспектральный лазер-
ный стенд, предназначенный для исследования отражательных харак-
теристик материалов и покрытий;
представлена методика измерений на стенде, основанная на за-
мещении исследуемого материала сертифицированной образцовой
мерой спектрального коэффициента диффузного отражения;
показаны преимущества измерения характеристик на стенде по
сравнению с использованием обобщенных моделей отражения по-
крытий.
Статья поступила в редакцию 07.09.2012