Симулятор рентгеновского дифрактометра
9
3. Если спектральная линия исследуемого вещества
сильной или
умеренной
яркости
не пересекается
со спектральной линией извест-
ного вещества
сильной
яркости, то исследуемое вещество
скорее не
содержит фазу известного вещества.
Стоит отметить, что на первом этапе доказательства лингвисти-
ческой переменной «Содержание» в исследуемом веществе фазы из-
вестного вещества приписываются наиболее низкие положительные
характеристики «возможно» и «может быть», поскольку по совпаде-
нию одной линии трудно сказать сделать более точный прогноз.
Рентгенографический анализ.
Рентгенографический анализ
наиболее часто применяется для решения двух важных задач: прове-
дения рентгеновского фазового и рентгеноструктурного анализа, ко-
торый в прикладных исследованиях сводится к уточнению структуры
фаз, например, их параметров элементарной ячейки.
В задачи рентгенофазового анализа входит определение наличия
тех или иных фаз, входящих в кристалл исследуемого вещества, а
также доля их присутствия в этом веществе. Рентгенофазовый анализ
основан на следующем свойстве абсолютно всех кристаллов: каждый
кристалл имеет уникальный набор межплоскостных расстояний, од-
нозначно идентифицирующий данный кристалл. Набор межплос-
костных расстояний — это своеобразный «паспорт» кристалла.
Вторая группа задач — рентгеноструктурный анализ. Он ставит
перед собой задачу полного восстановления структуры элементарной
ячейки кристаллической решетки, а также идентификацию всех ато-
мов, входящих в нее. Эта задача является сравнительно сложной и
имеет ряд ограничений как технического, так и фундаментального
характера. К фундаментальным ограничениям относится тот факт,
что ни один детектор отраженных рентгеновских лучей не может в
принципе зафиксировать фазу отраженной волны, регистрируя ин-
тенсивность, по которой можно найти только амплитуду отраженной
волны. Однако в настоящее время разработаны различные методики
и упрощения, позволяющие решить эту задачу в начальном прибли-
жении, а потом последовательно уточнять структуру кристалла [1].
Наряду с тем, что проведение полного рентгеноструктурного
анализа — задача очень сложная, ее первый этап — определение (или
уточнение) параметров элементарной ячейки — задача сравнительно
менее трудоемкая и просто решаемая.
С помощью симулятора решаются две обозначенные выше зада-
чи: проведение рентгенофазового анализа и определение (или уточ-
нение) параметров элементарной ячейки. Для решения поставленных
задач требуется решить перечисленные далее подзадачи.
1. Необходимо выбрать и применить наиболее подходящий алго-
ритм аппроксимации точек рентгенограммы. Удобнее применять ме-
тод наименьших квадратов. При предварительной обработке для по-
