Т.С. Ровенская
6
тических сред, числа граничащих с воздухом оптических преломля-
ющих поверхностей и спектральных характеристик просветляющих
покрытий.
Таким образом, выполненный анализ характеристик репродукци-
онного объектива показывает, что они образуют нетривиальный ком-
плекс габаритных, оптических, спектральных и качественных харак-
теристик. При сочетании высоких значений относительного отвер-
стия и углового поля в пространстве предметов и работе его в
широком спектральном диапазоне объектив должен удовлетворять
возросшим требованиям к рассмотренным выше разнообразным по-
казателям качества изображения (разрешению в нетривиальном спек-
тральном диапазоне, уровню исправления дисторсии, к стабильности
освещенности по полю при высокой прозрачности).
Одновременно с этим необходимо обеспечить конструктивные
особенности схемы — телереверсивность, телецентричность или
квазителецентричность хода главных лучей в пространстве изобра-
жений, а также решить остро актуальную задачу компактности объ-
ектива. Это выводит проектирование таких оптических систем на
уровень прикладных научных разработок. Следует провести иссле-
дования по оптимизации расчетных моделей на всех этапах разработ-
ки, включая выбор групп используемых оптических материалов,
структурный и параметрический синтез компонентов с необходимым
и достаточным числом силовых и коррекционных элементов.
Обоснование выбора классификационных групп объекти-
вов-аналогов.
Для обоснования концепции строения структурной
схемы репродукционного объектива выполнен анализ схем и харак-
теристик объективов-аналогов, определенных по различным источ-
никам информации. Исследованы обзоры фотографических, кино-
съемочных, кинопроекционных и репродукционных объективов, ко-
торые были разработаны в предшествующие годы в СССР и за
рубежом [1–4]; патенты США на светосильные, в том числе широ-
коугольные, фотографические и проекционные объективы для циф-
ровой обработки информации (за период с 2005 г. по настоящее
время) [5]; объективы, полученные в результате структурного син-
теза с помощью эвристических правил [6–8]; обзор оптических схем
современных объективов микроскопов и результаты их анализа с
позиции решения аберрационных задач [9]; базы объективов про-
граммы ZEMAX [10].
Обращение к исследованиям в области аберрационного расчета
объективов микроскопов является весьма полезным по нескольким
причинам. Во-первых, объективы микроскопов с большим значением
увеличения или рассчитанные на тубус «бесконечность» с увеличен-
ным рабочим расстоянием имеют ряд особенностей в структурных
