Тестирование ПЛИС с помощью конвейеризированных генераторов контрольных кодов
Опубликовано: 18.11.2013
Авторы: Брехов О.М., Ратников М.О.
Опубликовано в выпуске: #11(23)/2013
DOI: 10.18698/2308-6033-2013-11-1005
Раздел: Информационные технологии
Предложен подход к решению задач исследования характеристик ПЛИС и тестирования систем, использующих ПЛИС, на ранних этапах разработки посредством универсальных тестовых прошивок на основе конвейеризированных генераторов контрольных кодов. Разработаны тестовые прошивки: на основе CRC (для выявления одиночных и множественных сбоев или отказов) и на основе кода Хэмминга (для выявления места сбоя или отказа).
Литература
[1] Зыков Д., Ковригин В. Об одном подходе к снижению трудоемкости на этапе проверки функционирования электронных устройств на ПЛИС. Компоненты и технологии, 2004, № 3, с. 168
[2] Шаропин Ю., Будаев В. Основы построения систем питания ПЛИС. Компоненты и технологии, 2006, № 8, с. 144-151
[3] Pratt В., Caffrey М., Graham P., Morgan K., Wirthlin M. Improving FPGA Design Robustness with Partial TMR. IRPS, 2006, 7 p.
[4] Бобровский Д.В. Методы и средства прогнозирования стойкости ПЛИС к воздействию радиационных факторов космического пространства. Дис. ... канд. техн. наук. Москва, 2011, 100 с.
[5] Williams R.N. A Painless Guide to CRC Error Detection algorithms. Rocksoft™ Pty Ltd., Australia, 1993, 30 p.
[6] IEEE Standard for SystemVerilog - Unified Hardware Design, Specification, and Verification Language. The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. New York, 2005, 664 p.
[7] Никитин Г.И. Поддубный С. С. Помехоустойчивые циклические коды. Санкт-Петербург, СШГУАП, 1998, 72 с.