Симулятор рентгеновского дифрактометра | Инженерный журнал: наука и инновации
Инженерный журнал: наука и инновацииЭЛЕКТРОННОЕ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЕ ИЗДАНИЕ
свидетельство о регистрации СМИ Эл № ФС77-53688 от 17 апреля 2013 г. ISSN 2308-6033. DOI 10.18698/2308-6033
  • Русский
  • Английский
Статья

Симулятор рентгеновского дифрактометра

Опубликовано: 15.10.2013

Авторы: Романова Т.Н., Винтайкин Б.Е., Зинченко А.М.

Опубликовано в выпуске: #6(18)/2013

DOI: 10.18698/2308-6033-2013-6-780

Раздел: Информационные технологии

В статье обоснованы эргономические, технические и физические причины необходимости создания симулятора рентгеновского дифрактометра и его значение для процесса обучения студентов в технических вузах. На основе результатов проведенных исследований всех особенностей работы с рентгеновским дифрактометром для изучения кристаллической решетки вещества разработана программная модель симулятора, который позволит проводить виртуальный дифракционный эксперимент с целью выполнения рентгеновского фазового анализа.


Литература
[1] Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений. Москва, Металлургия, 1987, 205 с.
[2] Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электроннооптический анализ. Приложения. Москва, Металлургия, 1970, 366 c.
[3] Панова Т.В., Блинов В.И. Определение параметров элементарной ячейки кристаллов: Учебно-методические указания к выполнению лабораторной работы по курсу "Рентгеноструктурный анализ". Омск, 2004, 15 с.
[4] "Inorganic Crystal Structure Database". URL: http://icsd.ill.eu/icsd/index.html (дата обращения: 21.04.2013)
[5] Кристаллографическая и кристаллохимическая База данных для минералов и их структурных аналогов. URL: http://database.iem.ac.ru/mincryst/rus/index.php (дата обращения: 21.04.2013)
[6] Рутковский Л. Методы и технологии искусственного интеллекта. Москва, Телеком, 2010, 520 с.