Инженерный журнал: наука и инновацииЭЛЕКТРОННОЕ НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЕ ИЗДАНИЕ
свидетельство о регистрации СМИ Эл № ФС77-53688 от 17 апреля 2013 г. ISSN 2308-6033. DOI 10.18698/2308-6033
  • Русский
  • Английский

Поиск по ключевому слову "рентгеновская дифрактометрия"


Получение заданных электрофизических характеристик слоев In0,01Ga0,99As: (Zn и Si) солнечных элементов в процессе эпитаксии из газовой фазы

Опубликовано: 30.07.2020

Авторы: Лебедев А.А., Смирнов А.А., Наумова А.А., Вагапова Н.Т., Жалнин Б.В.

Опубликовано в выпуске: #7(103)/2020

DOI: 10.18698/2308-6033-2020-7-2001

Раздел: Авиационная и ракетно-космическая техника | Рубрика: Тепловые, электроракетные двигатели и энергоустановки летательных аппаратов