15
Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов
[18] Алфимов С.М., Быков В.А., Гребенников Е.П. Желудева С.И., Мальцев П.П.,
Петрунин В.Ф., Чаплыгин Ю.А. Развитие в России работ в области нанотех-
нологий.
Микросистемная техника
, 2004, № 8, с. 2–8.
[19] Алферов Ж.И. Нанотехнологии — перспективы развития в России.
Наука
Москвы и регионов
, 2005, № 2, с. 41–47.
Статья поступила в редакцию 16.07.2013
Ссылку на эту статью просим оформлять следующим образом:
Смирнов Е.В. Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов.
Инже-
нерный журнал: наука и инновации
, 2013, вып. 6. URL:
/
nano/hidden/809.html
Смирнов Евгений Васильевич
родился в 1948 г., окончил МФТИ в 1972 г. Канд.
физ.-мат. наук, доцент кафедры «Физика» МГТУ им. Н.Э. Баумана. Автор более 80
печатных работ. Научные интересы: когерентное взаимодействие излучения с веще-
ством, мессбауэровская дифракция, квантовая физика, нанотехнологии. e-mail:
