Previous Page  2 / 13 Next Page
Information
Show Menu
Previous Page 2 / 13 Next Page
Page Background

М.С. Яшин, В.В. Онуфриев

2

Инженерный журнал: наука и инновации

# 7

2016

параметров: концентрации заряженных частиц

,

n

концентрации

нейтральных атомов

,

a

N

потенциала

,

температуры электронов ,

e

T

температуры ионов

i

T

и атомов .

a

T

В условиях дуговой плазмы ТЭП

распределение температуры тяжелой компоненты плазмы можно ап-

проксимировать линейным законом [2]:

 

/ ,

    

i

a

em em k

T T T x T T T x d

где

d

— межэлектродный зазор.

Концентрацию нейтральных атомов при этом определяют из

условия постоянства давления нейтральных газов. Тогда для нахож-

дения распределения остальных параметров плазмы используют гид-

родинамическую модель, в которой система уравнений переноса за-

рядов и потока энергии дополнена уравнениями непрерывности [3]:

3 / 2

;

 

 

  

e

e

e

e

e

dT

d

dn

j

u n q

k

qD

dx

dx

dx

(1)

(

3 / 2)

;

 

 

   

i

i

ie

i

i

d

dT

dn

j

u n qn R n

k

qD

dx

dx

dx

(2)

;

 

  

 

e e

e

e

e

e

kT

dT

S j

q

dx

(3)

( , ,

);

   

e

i

e a

dj

dj q n T N

dx dx

(4)

( , ,

)(

)

.

 

       

e

e a ion

rad

ei

ea

dS

n T N E q S

S S

dx

(5)

Здесь

,

e

j

i

j

— плотность электронного и ионного токов;

e

S

плотность потока энергии электронов;

,

e

,

e

,

e

u

,

e

D

,

i

,

i

u

,

i

D

ie

R

— кинетические коэффициенты, полученные в [4] с помощью

модификации метода Энскога — Чепмена; ( , ,

)

e a

n T N

— скорость

ионизации рекомбинации;

rad

S

— потери энергии на излучение;

,

ei

S

ea

S

— потери энергии вследствие электрон-ионных и элек-

трон-атомных столкновений (за положительное направление элек-

тронного тока принято направление от эмиттера к коллектору, а для

ионного тока — от коллектора к эмиттеру).

Граничные условия для этой системы записывают в виде шести

алгебраических уравнений, связывающих потоки зарядов и энергии с

граничными значениями параметров плазмы в приэлектродных обла-

стях. Эмиттерные граничные условия заимствованы из [3], здесь же

подробнее рассмотрим условия на границе с коллектором.