Применение методов сканирующей зондовой микроскопии в исследовании опаловых наноструктур

9 / 11

Применение методов сканирующей зондовой микроскопии…
Инженерный журнал: наука и инновации # 1·2018 9
 Смирнов Е.В. Сканирующая микроскопия в измерениях нанообъектов.
Инженерный журнал: наука и инновации, 2013, вып. 6.
URL: (дата обращения
31.07.2017).
 Solver P47 users guide. Customer support. NT-MDT. Spectrum Instruments.
URL: (дата обращения 31.07.2017).
 Hassel T., Lagonigro L., Peacock A.C., Yoda S., Brown P.D., Sazio P.J.A.,
Howdle S.M. Silver Nanoparticle Impregnated Polycarbonate Substrates for
Surface Enhanced Raman Spectroscopy. Adv. Func. Mater, 2008, vol. 18, no. 8,
pp. 1265–1271.
 Chae W.-S., Yu H., Ham S.-K. Bimodal porous gold opals for molecular sen-
sing. Electronic material letters, 2013, no. 9(6), pp. 783–786.
 Вагулина Е.В., Сырицкий А.Б., Панфилова Е.В. Результаты исследования
планарных опаловых структур методами сканирующей туннельной микро-
скопии. Наноинженерия, 2015, № 1, с. 3–6.
Статья поступила в редакцию 01.09.2017
Ссылку на эту статью просим оформлять следующим образом:
Панфилов Е.В., Сырицкий А.Б., Доброносова А.А. Применение методов ска-
нирующей зондовой микроскопии в исследовании опаловых наноструктур. Инже-
нерный журнал: наука и инновации, 2018, вып. 1.
Панфилова Екатерина Вадимовна — канд. техн. наук, доцент
кафедры «Электронные технологии в машиностроении» МГТУ
им. Н.Э. Баумана. Научные интересы: нанотехнологии, колло-
идные наноструктуры, тонкие пленки. Имеет более 120 опубли-
кованных научных работ. e-mail:
Сырицкий Антони Борисович — канд. техн. наук, доцент ка-
федры «Метрология и взаимозаменяемость» МГТУ им. Н.Э. Бау-
мана. Научные интересы в области нанометрологии, а также
фазохронометрических измерительных технологий. Автор бо-
лее 50 научных работ. e-mail:
Доброносова Алина Александровна — аспирант кафедры «Элект-
ронные технологии в машиностроении» МГТУ им. Н.Э. Баумана.
Научные интересы: нанотехнологии, тонкие пленки. Имеет 19 науч-
ных работ. e-mail: