О.М. Брехов, М.О. Ратников
2
Введем также понятие
входного вектора
— множество двоичных
значений, установленных на входы тестовой системы в данный мо-
мент.
Тестовая прошивка необходима на следующих этапах тестирова-
ния:
• выбор аппаратной платформы;
• отбраковка ПЛИС;
• тестирование окружения ПЛИС (системной платы и ее подси-
стем [1, 2].
Существующие подходы, описанные в [3] и [4], обладают следу-
ющими недостатками:
• не гарантируют выявления одиночных и многократных сбоев;
• не обеспечивают точного выявления места возникновения сбоев;
• требуют создания отдельной тестовой прошивки для каждого
этапа тестирования;
• не всегда обеспечивают корректную обработку множественных
сбоев.
К тестовому функциональному описанию предъявляются следу-
ющие требования:
1)
синтезируемость
— корректное выполнение этапов синтеза,
трассировки и генерации конфигурационного файла для целевой
ПЛИС, т. е. не должны нарушаться ограничения, заданные конкрет-
ной микросхемой и используемым программным обеспечением;
2)
чувствительность к сбоям и отказам
— обеспечение макси-
мальной чувствительности к сбоям и отказам, включая детекцию
многократных сбоев и отказов;
3)
масштабируемость
— быстрое изменение степени логической
загрузки ПЛИС;
4)
сохранение логической емкости
— соответствие между пред-
полагаемым значением занятых логических ресурсов и значением,
полученным с помощью оценки синтезатора и трассировщика. Это
можно обеспечить такими способами, как:
• создание функционального описания в формате, соответствую-
щем этапу постсинтеза, т. е. в виде списка библиотечных элементов и
связей между ними. Недостатками этого подхода являются трудоем-
кость и привязка к конкретной библиотеке элементов;
• отключение оптимизации. Однако для некоторых типов иссле-
дования микросхем это недопустимо, так как может негативно ска-
заться на точности проводимого тестирования;
5)
воспроизводимость
— значения, получаемые в процессе рабо-
ты тестового устройства, могут быть вычислены заранее и, соответ-
ственно, сверены с данными, полученными в результате работы ис-
следуемой ПЛИС.
