О.М. Брехов, М.О. Ратников
4
на каждом такте на входы тестовой системы устанавливается новый
входной вектор. Результатом работы такой тестовой системы являет-
ся множество наборов контрольных кодов, вычисленных для разных
входных векторов. При вычислении контрольных битов для эталон-
ного входного потока будем учитывать особенность работы конвей-
ерных систем с параллельной подачей на каждом такте входных дан-
ных на все ступени конвейера.
Пусть у нас имеется эталонный входной поток
S
. Тогда по опре-
делению
{
}
1 2
, , ...,
t
S V V V
=
.
(1)
Здесь
1
, ...,
t
V V
— входные векторы, причем
{
}
1 2
, , ...,
i
i
i
in
V b b
b
=
,
(2)
где
1
, ...,
i
in
b
b
—
n
бит входного потока, т.е. набор двоичных зна-
чений, установленных на входы тестовой системы на
i
-м такте ее
работы.
Пусть
R —
множество выходных значений тестовой системы, т. е.
{
}
1 2
, , ...,
t
R R R R
=
.
(3)
Здесь ,
1, ,
i
R i
t
=
— наборы контрольных битов в соответствующие
моменты времени, причем
{
}
1 2
, , ...,
i
i
i
ik
R r r
r
=
,
(4)
где
1
, ...,
i
ik
r
r
— контрольные биты, составляющие
i
-й набор.
По определению
( )
R F S
=
.
(5)
Так как в тестовой системе не используются запоминающие
устройства (ЗУ), долговременно хранящие данные (в каждый момент
времени в ЗУ тестового конвейера могут находиться только проме-
жуточные результаты, вычисленные на предыдущем такте) и на си-
стему наложены определенные ограничения, то
i
R
зависит от всех
входных векторов
V
, которые устанавливались на входы конвейера за
n
тактов до
i
-го такта, где
n
— длина конвейера. Учитывая, что по-
следний входной вектор, оказавший влияние на ,
i
R
был установлен
за один такт до получения
i
R
, запишем
(
)
1
1 1
1
,
, ...,
i
i n i n
i
R F V V
V
− − − − +
−
=
.
(6)
