7 / 14
Система многокритериального проектирования тензорезисторных…
Инженерный журнал: наука и инновации
# 1·2017 7
можно судить о его деформации в целом. Места наклейки тензорези-
сторов определяются с помощью подпрограммы в расчете УЭ, кото-
рая для заданных ЛПР поверхностей перебирает различные варианты
наклейки тензорезисторов. Оптимальной считается схема наклейки
с номинальным РКП, который не меньше заданного, и минимальной
абсолютной нелинейностью.
Реализация методики.
Данная методика проектирования реали-
зована в прикладной программе, написанной на языке C#. Программа
является продолжением исследования, описанного в работе [8]. Для
примера на рис. 4 показана часть окон интерфейса разработанной
программы многокритериального проектирования ТД.
Рис. 4.
Часть окон интерфейса разработанной программы мно-
гокритериального проектирования ТД: форма определения
пространства параметров (сверху), форма задания характерис-
тик тензорезистора (слева), форма задания функциональных
ограничений (справа)
Входными данными для программы служат:
1)
параметризованный расчет упругого элемента на языке APDL
(ANSYS Parametric Design Language);
2)
данные о пространстве управляющих параметров;
3)
данные о требуемом номинальном РКП и остальных критери-
альных ограничениях (не обязательно, возможно переопределение);
4)
данные о функциональных ограничениях (не обязательно, воз-
можно переопределение);
5)
данные о наборе поверхностей для наклейки тензорезисторов.
Поверхности выбираются в интерактивном режиме, после автомати-
ческого проведения пробного расчета;